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EVK Helios EQ32

Das EVK Helios EQ32 ist ein leistungsfähiges Analysesystem, das auf der berührungslosen und zerstörungsfreien Infrarot-Bildgebungsspektroskopie basiert.

Die Kamera überzeugt als ortsaufgelöstes Echtzeitmesssystem mit leistungsstarker Datenverarbeitung und hochgenauer Signalverarbeitung für analytische, industrielle Anwendungen.

Helios EQ32, ein speziell für industrielle Arbeitsbedingungen entwickeltes Messsystem, wurde in enger Zusammenarbeit mit Partnern aus dem Maschinen- und Anlagenbau entwickelt. Aufgrund des stabilen optomechanischen Designs für reale industrielle Temperaturbedingungen, Maschinenkonzepte und Anwendungsbereiche sowie speziell für die Analyse entwickelte Datenverarbeitung und Algorithmen ermöglicht Helios EQ32 eine optimierte Analyse direkt in der Prozesslinie.

EVK Helios EQ32

Ortsaufgelöst und in Echtzeit

Der Workflow, in welchem das System mit Hilfe der EVK Software SQALAR konfiguriert wird, chemometrische Modelle erstellt und übertragen werden, erfolgt nahtlos. Die Auswertung findet vollständig im Helios EQ32 System statt, wodurch keine externen Auswertungssysteme benötigt werden. Eine Anbindung an bereits bestehende Auswertungssysteme ist jedoch einfach über GigE Vision/GenICam und Camera Link möglich. Helios EQ32 ist mit 312  effektivenPixeln Ortsauflösung ausgerüstet, misst im Wellenlängenbereich von 930 – 1700nm und scannt dabei mit einer Bildrate von 446Hz full frame.

Das EVK Professional Services Team begleitet die Kunden von der Applikationsentwicklung bis zur vollen Integration des Helios EQ32 Systems in die Anlage. EVK ermöglicht dadurch die Integration modernster Echtzeitanalysesysteme in kürzester Zeit, um Verarbeitungslinien erfolgreich für die Zukunft zu rüsten und somit das volle Potential der Anwendungen auszuschöpfen. EVKs Helios EQ32 wird erstmals offiziell vom 7.Mai bis zum 10.Mai 2019 auf der Control Messe in Stuttgart in Halle 8, Stand 8105 vorgestellt.

Core Features

Spektralbereich im Nahinfrarot (NIR): 0.93 - 1.70 nm

Laterale Auflösung 312 Pixel effektiv

Framerate 500 Hz bei 220 spektralen Stützstellen

GigE Vision/GenICam Schnittstelle

Robustes, industrietaugliches Design. Schutzklasse IP54

Temperaturbereich 0°C - 50°C bei voller optischer Stabilität

Auf Analyseanwendungen optimiertes optisches Design

Nahtlose Anbindung an die EVK SQALAR Software Suite

Downloads

EVK Helios EQ32 product brief
EVK Helios EQ32 Analysesystem
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