EVK Helios EQ32
Die EVK HELIOS EQ32 ist eine Hyperspektralkamera mit integriertem Klassifizierungssystem. Dieses leistungsfähige Analysesystem basiert auf der berührungslosen und zerstörungsfreien kurzwelligem Infrarot-Bildgebungsspektroskopie.
Das EVK HELIOS System analysiert die chemischen Eigenschaften von Objekten und unterscheidet Materialtypen, die für Farbkameras nicht sichtbar sind. Das integrierte Analysesystem liefert qualitative und quantitative Informationen über Materialströme, wie z. B. Analytenkonzentrationen oder Materialzusammensetzungen.
Die Kamera überzeugt als ortsaufgelöstes Echtzeitmesssystem mit leistungsstarker Datenverarbeitung und hochgenauer Signalverarbeitung für analytische, industrielle Anwendungen.
Hyperspektralkamera mit integriertem Klassifizierungssystem
EVK HELIOS EQ32, ein speziell für industrielle Arbeitsbedingungen entwickeltes Messsystem, wurde in enger Zusammenarbeit mit Partnern aus dem Maschinen- und Anlagenbau entwickelt. Aufgrund des stabilen optomechanischen Designs für reale industrielle Temperaturbedingungen, Maschinenkonzepte und Anwendungsbereiche sowie speziell für die Analyse entwickelte Datenverarbeitung und Algorithmen ermöglicht EVK HELIOS EQ32 eine optimierte Analyse direkt in der Prozesslinie.
Value Statements
Integrierte Datenanalyse
keine externe Datenplattform erforderlich
Hyperspektrale Bildgebungskamera
für Inline-Operationen in Echtzeit
Plug and Play
optisch korrigierte Ausgabedaten, keine externe Kalibrierung notwendig
Schnittstellenstandard
GigE Vision und GenICam kompatibel
Ausgezeichnetes Signal-Rausch-Verhältnis
SRV von 3.500 bei nomineller örtlicher Sensorauflösung von 320 Pixel
Kompaktes und robustes Design
speziell für die Industrie entwickeltes Design
Ortsaufgelöst und in Echtzeit
Der Workflow, in welchem das System mit Hilfe der Software EVK SQALAR konfiguriert wird, chemometrische Modelle erstellt und übertragen werden, erfolgt nahtlos. Die Auswertung findet vollständig im EVK HELIOS EQ32 System statt, wodurch keine externen Auswertungssysteme benötigt werden. Eine Anbindung an bereits bestehende Auswertungssysteme ist jedoch einfach über GigE Vision und GenICam möglich. EVK HELIOS EQ32 ist mit 320 Pixeln örtlicher Sensorauflösung ausgerüstet, misst im Wellenlängenbereich von 930 – 1700 nm und scannt dabei mit einer Bildrate von 446Hz Vollspektrum.
Das EVK Professional Services Team begleitet die Kunden von der Applikationsentwicklung bis zur vollen Integration des EVK HELIOS EQ32 Systems in die Anlage. EVK ermöglicht dadurch die Integration modernster Echtzeitanalysesysteme in kürzester Zeit, um Verarbeitungslinien erfolgreich für die Zukunft zu rüsten und somit das volle Potential der Anwendungen auszuschöpfen.
Technische Details
- Spektralbereich im Nahinfrarot (NIR) und kurzwelligem Infrarot (SWIR): 930 – 1700 nm
- Scanrate von 446 Hz Vollspektrum (248 spectral bands) bis zu 3.8 kHz mit ROI
GigE Vision/GenICam Schnittstelle
Robustes, industrietaugliches Design. Schutzklasse IP54
Temperaturbereich 0°C – 50°C bei voller optischer Stabilität
Auf Analyseanwendungen optimiertes Design
Nahtlose Anbindung an die EVK SQALAR Software Suite
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Typische Kombinationen
unserer Anwendungen
Ergänzt durch die Analysesoftware EVK SQALAR ist es möglich Daten effizient und einfach aufzunehmen und daraus chemometrische Modelle zu erstellen. Die optimierte und benutzerfreundliche Anwendung ermöglicht dabei eine flexible und schnelle Entwicklung von Applikationen, wodurch die Entwicklungszeit minimiert und der Prozess wirtschaftlich effektiv gestaltet werden kann. Der EVK STREAM Supervisor dient zur Mehrpunktüberwachung industrieller Stoffströme.
Darüber hinaus liefert, der induktive Metallsensor EVK ABAS ortsaufgelöste Informationen über leitfähiges Material im Produktstrom und kann so zuverlässig eisenhaltige und nichteisenhaltige Metallpartikel erkennen und den Befehl zum aussortieren übermitteln.